AFM ITA

Microscopi a scansione di forza (SPM) per uso didattico e di ricerca:

FSM Nanoview-1000/2000:

il più economico AFM ad alta risoluzione



Caratteristiche:

  • Sospensioni a molla per alta reiezione delle vibrazioni
  • Sistema a leva-ottica con punte commerciali (microleve)
  • Posizionamento XY micrometrico della punta sul campione
  • Microscopio ottico sulla verticale facilita l’allineamento del fascio laser
  • Scanners da 10x 10 um, 20×20 um , 50×50 um, 100x100um
  • Risoluzione: Laterale  0.2 nm ,  Verticale 0.05 nm
  • Immagini:   512×512 px
  • Modi: Contatto, Tapping, Forza laterale, Fase, EFM, MFM
  • Velocità di scansione:  0.6Hz – 4 Hz
  • Dimensione massima campione: φ<90 mm H<20 mm
  • Sistema operativo : Windows XP/7/8/10

 

NanoTutor SPM: un AFM con punte autocostruite e con modalità STM e Litografia di forza

Caratteristiche:

  • Scanning Force Microscope (SFM)
  • Scanning Tunneling Microscope (STM)
  • Spettroscopia e Microlitografia SPM
  • Interfaccia “user-friendly”
  • Sonde facilmente sostituibili
  • Punte in tungsteno ottenute mediante attacco elettrochimico
  • Scanner: 70x70x10 microns
  • Sistema operativo : Windows XP/7