FSM Nanoview-1000

Un AFM didattico con alta risoluzione e prezzo imbattibile


Caratteristiche

  • Testa di scansione sospesa a molle con alta reiezione del rumore
  • Facile sistema per allineare il laser sulla micro-leva porta-punta;
  • Scanners da 10×10 um 20×20 um o 50×50 um
  • Posizionamento XY del campione con accuratezza micrometrica
  • Microscopio ottico in verticale 4X
  • Risoluzione: laterale 0.2 nm ,  verticale 0.05 nm
  • Immagini:  512×512 px
  • Modalità: Contatto, Non-contatto, Forza laterale, Fase, EFM, MFM
  • Velocità di scansione 0.6Hx-4 Hz
  • Dimensione max campione: φ<90 mm H<20 mm
  • Sistema operativo : Windows XP/7/8/10