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APPARATI SPERIMENTALI 

AFM


Esperimento di Haynes e Shockley (nuova versione)

Esperimento di Rüchardt :  trasformazione adiabatica dell'aria e misura di Cp/Cv (nuova versione)

Misura dell'effetto Hall in funzione della temperatura (nuova versione)

Banco ottico per Microonde

Misura spettroscopica dell'Energy Gap in semiconduttori

Misure di resistenza in funzione della temperatura per vari materiali

Cella di Peltier

Spettri di diffrazione da fenditure e Polarizzazione

Pendolo di Wilberforce

Apparato per misurare la velocità della luce

Cannone elettromagnetico

Trasformatore di Tesla
 

Introduzione alle tecniche SPM 
(testo di Viktor Mironov)

NanoTutor SPM

Nanotutor 0

Il microscopio didattico più economico
per AFM, STM e Microlitografia

Caratteristiche

Immagini acquisite con NanoTutor

      Dispositivo automatico per produzione di punte per NanoTutor

TipEtchingDevice
FSM- 1000:   il più economico afm con alta risoluzione


FSM-1000
Caratteristiche
  • Sospensione elastica della testa per reiezione del rumore
  • Facile posizionamento di laser e fotorivelatore
  • Accurato posizionamento del campione in XY con tavolino micrometrico
  • Microscopio ottico verticale 4X, risoluzione 2.5 micron
  • Scanners : 20x20um oppure 50×50 um
  • Risoluzione: Laterale 0.2 nm , Verticale 0.05 nm
  • Immmagini:  512×512 px
  • Modi: Contatto, Tapping (opzionali: Forza laterale, EFM, MFM)
  • Velocità di scansione: 0.6Hz – 4 Hz
  • Dimensioni massime del campione: Diametro 90 mm, Spessore 20 mm
  • Sistemi operativi : Windows XP, Windows 7, Windows 10
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