Home

Benvenuti in LabTrek !

Apparati didattici per Laboratorio di Fisica
Laboratorio di nanotecnologie:  AFM -SPM per la didattica
Progettazione e produzione di  Exhibits per Musei scientifici

Chi siamo

LabTrek  è una piccola società nata come spin-off universitario per condividere l’esperienza maturata in attività nei corsi di laboratorio di Fisica.

  • LabTrek progetta e produce apparati sperimentali per didattica della Fisica.
  • Su richiesta, LabTrek progetta e produce exhibits per Musei Scientifici.
  • Su richiesta, LabTrek progetta e produce dispositivi per applicazioni industriali.

 

LabTrek è distributore esclusivo in Europa di:

    • FSM Nanoview-1000/2000, AFM a basso costo, con alta risoluzione
    • NanoTutor SPM, uno strumento per uso didattico, capace di eseguire analisi AFM,  STM e micro-litografia

Libro di testo per microscopia a scansione di sonda:
fondamenti_di_microscopia_a_scansione_di_sonda

Breve introduzione su AFM:
sfm2017_ITA

LED ILLUMINATOR CATALOGUE

Lista di nostri clienti :

      • CNRS-PMC, Laboratoire de Physique de la Matière Condensée, Palaiseau, France
        Sheffield University, Centre for GaN Materials & Devices, Sheffield, UK
        Sheffield University, Dept. of Electronic and Electrical Engineering, Sheffield, UK
        Manchester University, School of Physics and Astronomy, Manchester, UK
        Lancaster University, Physics Dept., Lancaster, UK
        Faculty of Technology and Maritime Sciences (TekMar), Toensberg, Norway
        The Open University, Raanana, Israel
        Hebrew University of Jerusalem, Israel
        Virginia Tech, Dept. of Science & Engineering, Blacksburg – VA,  USA
        Columbia University, Applied Physics & Applied Mathematics Dept., NY, USA
        San Diego State University, Miami – FL, USA
        McGill University, Montreal, QC, Canada
        The University of Queensland , Australia
        Dublin City University, Physics Dept., Dublin, Ireland
        Institut National des Sciences Appliquées, Dept. Sciences et Genie des Materiaux (SGM), Rennes, Cedex, France
        ZHAW Zürcher Hochschule für Angewandte Wissenschaften School of Engineering , Winterthur, Switzerland
        Lyceum Alpinum, Zuoz, Switzerland
        Freiburg Universität, Institut für Geowissenschaften, Freiburg, Germany
        Friedrich-Alexander-Universität (FAU) Erlangen-Nurnberg, Germany
        Ruhr Universität, Lehrstuhl für Angewandte Festkörperphysik, Bochum, Germany
        Bonn Universität, Physikalisches Institut. Nussallee ,Germany
        Ljubljana University, Faculty of Chemistry and Chem. Tech, Slovenia
        Maribor University, Faculty of Mechanical Engineering, Slovenia
        Università Ca Foscari, Dip. Chimica, Venezia, Italy
        Università di Cagliari, Dip. Fisica, Italy
        Politecnico di Torino, Dip. Scienza Applicata e Tecnologia, Italy
        Università La Sapienza, Dip. Ingegneria, Roma, Italy
        Università di Padova, Dip. Fisica e Astronomia, Italy
        Università di Bologna, Dip. Fisica e Astronomia, Italy
        Università di Udine, Dip. Scienze Matematiche Informatiche e Fisiche, Italy
        CNR-ISMN, Ist. per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati, Bologna, Italy

 

    • Collaborazioni temporanee:
      Officina DSG – Curtarolo , Italy
      Millennium Engineering – Villa del Conte , Italy
      Plastigraf – Camin, Padova, Italy
      Dipartimento di Scienza e Alta Tecnologia – Università dell’Insubria, Como, Italy
      NT-SPb Saint-Petersburg, Russia
      Suzhou FlyingMan Precision Instruments, Shanghai, China
      Delta Sistemi , Roma, Italy
      ProtoLab, Padova, Italy

AFM ITA

Microscopi a scansione di forza (SPM) per uso didattico e di ricerca:

FSM Nanoview-1000/2000:

il più economico AFM ad alta risoluzione



Caratteristiche:

  • Sospensioni a molla per alta reiezione delle vibrazioni
  • Sistema a leva-ottica con punte commerciali (microleve)
  • Posizionamento XY micrometrico della punta sul campione
  • Microscopio ottico sulla verticale facilita l’allineamento del fascio laser
  • Scanners da 10x 10 um, 20×20 um , 50×50 um, 100x100um
  • Risoluzione: Laterale  0.2 nm ,  Verticale 0.05 nm
  • Immagini:   512×512 px
  • Modalità di acquisizione: Standard: Contatto o Tapping; Opzionali:  Forza laterale, Fase, EFM, MFM
  • Velocità di scansione:  0.6Hz – 4 Hz
  • Direzione di scansione: qualsiasi angolo
  • Dimensione massima campione: φ<90 mm H<20 mm
  • Sistema operativo : Windows XP/7/8/10

 

NanoTutor SPM: un AFM con punte autocostruite e con modalità STM e Litografia di forza

Caratteristiche:

  • Scanning Force Microscope (SFM)
  • Scanning Tunneling Microscope (STM)
  • Spettroscopia e Microlitografia SPM
  • Interfaccia “user-friendly”
  • Sonde facilmente sostituibili
  • Punte in tungsteno ottenute mediante attacco elettrochimico
  • Scanner: 70x70x10 microns
  • Sistema operativo : Windows XP/7