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Benvenuti in LabTrek !

Apparati didattici per Laboratorio di Fisica
Laboratorio di nanotecnologie:  AFM -SPM per la didattica
Progettazione e produzione di  Exhibits per Musei scientifici

Chi siamo

LabTrek  è una piccola società nata come spin-off universitario per condividere l’esperienza maturata in attività nei corsi di laboratorio di Fisica.

  • LabTrek progetta e produce apparati sperimentali per didattica della Fisica.
  • Su richiesta, LabTrek progetta e produce exhibits per Musei Scientifici.
  • Su richiesta, LabTrek progetta e produce dispositivi per applicazioni industriali.

 

LabTrek è distributore esclusivo in Europa di:

    • FSM Nanoview-1000, un AFM a basso costo, con alta risoluzione
    • NanoTutor SPM, uno strumento per uso didattico, capace di eseguire analisi AFM,  STM e micro-litografia

Libro di testo per microscopia a scansione di sonda:
fondamenti_di_microscopia_a_scansione_di_sonda

Breve introduzione su AFM:
sfm2017_ITA

 

Lista di nostri clienti :

      • Laboratoire de Physique de la Matière Condensée, Palaiseau, France
        Centre for GaN Materials & Devices, University of Sheffield, UK
        Dept. of Electronic and Electrical Engineering, University of Sheffield, UK
        School of Physics and Astronomy, Manchester Univ., Manchester, UK
        Physics Dept. of Lancaster University , Lancaster, UK
        Faculty of Technology and Maritime Sciences (TekMar), Toensberg, Norway
        The Open University, Raanana, Israel
        Hebrew University of Jerusalem, Israel
        Virginia Tech – Dept. of Science & Engineering ,Blacksburg – VA,  USA
        Columbia Univ. – Applied Physics & Applied Mathematics Dept.- NY, USA
        San Diego State University, Miami – FL, USA
        The University of Queensland , Australia
        Physics Dept., Dublin City University , Ireland
        Dept. Sciences et Genie des Materiaux (SGM) Rennes Cedex , France
        ZHAW Zürcher Hochschule für Angewandte Wissenschaften School of Engineering , Winterthur, Switzerland
        Lyceum Alpinum, Zuoz, Switzerland
        Institut für Geowissenschaften, Universität Freiburg,Freiburg, Germany
        Friedrich-Alexander-Universität (FAU) Erlangen-Nurnberg, Germany
        Lehrstuhl für Angewandte Festkörperphysik, Bochum, Germany
        Physikalisches Institut. Nussallee ,Germany
        Faculty of Chemistry and Chem. Tech, University of Ljubljana, Slovenia
        Faculty of Mechanical Engineering, University of Maribor, Slovenia
        Dip. Chimica, Università Ca Foscari, Venezia, Italy
        Dip. Fisica, Università di Cagliari, Italy
        Dip. Scienza Applicata e Tecnologia , Politecnico di Torino, Italy
        Dip. Ingegneria, Università La Sapienza, Roma, Italy
        Dip. Fisica e Astronomia, Università di Padova, Italy
        Dip. Fisica e Astronomia, Università di Bologna, Italy
        Dip. Fisica, Università di Cagliari, Italy
        Dip. Scienze Matematiche Informatiche e Fisiche, Univ. di Udine , Italy
        CNR-ISMN, Ist. per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati, Bologna, Italy

 

    • Collaborazioni temporanee:
      FermiumLabs – Padova, Italy
      Officina DSG – Curtarolo , Italy
      Millennium Engineering – Villa del Conte , Italy
      Plastigraf – Camin, Padova
      Dipartimento di Scienza e Alta Tecnologia – Università dell’Insubria, Como, Italy
      NT-SPb Saint-Petersburg, Russia
      Suzhou FlyingMan Precision Instruments, Shanghai, China
      Delta Sistemi , Roma, Italy

AFM ITA

Microscopi a scansione di forza (SPM) per uso didattico e di ricerca:

FSM Nanoview-1000/2000:

il più economico AFM ad alta risoluzione



Caratteristiche:

  • Sospensioni a molla per alta reiezione delle vibrazioni
  • Sistema a leva-ottica con punte commerciali (microleve)
  • Posizionamento XY micrometrico della punta sul campione
  • Microscopio ottico sulla verticale facilita l’allineamento del fascio laser
  • Scanners da 10x 10 um, 20×20 um , 50×50 um, 100x100um
  • Risoluzione: Laterale  0.2 nm ,  Verticale 0.05 nm
  • Immagini:   512×512 px
  • Modi: Contatto, Tapping, Forza laterale, Fase, EFM, MFM
  • Velocità di scansione:  0.6Hz – 4 Hz
  • Dimensione massima campione: φ<90 mm H<20 mm
  • Sistema operativo : Windows XP/7/8/10

 

NanoTutor SPM: un AFM con punte autocostruite e con modalità STM e Litografia di forza

Caratteristiche:

  • Scanning Force Microscope (SFM)
  • Scanning Tunneling Microscope (STM)
  • Spettroscopia e Microlitografia SPM
  • Interfaccia “user-friendly”
  • Sonde facilmente sostituibili
  • Punte in tungsteno ottenute mediante attacco elettrochimico
  • Scanner: 70x70x10 microns
  • Sistema operativo : Windows XP/7